硬件測試技術(shù)案例精選高級研修班(周老師)課程介紹：

硬件測試的目的就是站在用戶的角度，對產(chǎn)品的功能、性能、可靠性、兼容性、穩(wěn)定性等進(jìn)行嚴(yán)格的檢查，體驗(yàn)用戶感受的同時(shí)提高產(chǎn)品的質(zhì)量及市場競爭力。硬件測試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段，也是決定產(chǎn)品質(zhì)量、降低產(chǎn)品的全壽命周期費(fèi)用的重要環(huán)節(jié)，如何將測試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多企業(yè)不斷追求的目標(biāo)。

培訓(xùn)收益:
在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，可以對產(chǎn)品設(shè)計(jì)原型進(jìn)行虛擬測試，驗(yàn)證設(shè)計(jì)方案，排除可能的設(shè)計(jì)缺陷；在生產(chǎn)階段，可以對產(chǎn)品進(jìn)行全面的測試，排除產(chǎn)品的潛在故障，從而降低使用過程中的故障率，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。另一方面，可測試性技術(shù)可以縮短新產(chǎn)品的研制、試驗(yàn)和評價(jià)的周期，降低產(chǎn)品的研制費(fèi)用，不僅如此，還可以提高產(chǎn)品的可用性、可維護(hù)性等指標(biāo)，減少用于這些方面的費(fèi)用，從而降低了產(chǎn)品的全壽命周期費(fèi)用。
1.能夠合理選擇硬件測試項(xiàng)目和試驗(yàn)方法
2.免費(fèi)得到以下資料：本課程電子課件；各種家電測試手冊；電影：PCB測試、分析及維修技術(shù)；電影：電子組件電測試技術(shù)。

培訓(xùn)特色：內(nèi)容：經(jīng)驗(yàn)、技巧、新穎、實(shí)用、深入、全面。方式：全程案例教學(xué)，看圖說話，言傳心授。特點(diǎn)：有圖有真相，通俗易懂。效果：立竿見影。

課程提綱:以實(shí)務(wù)為重點(diǎn)，解析大量實(shí)例，培養(yǎng)學(xué)員分析、解決實(shí)際問題的能力。講課內(nèi)容屆時(shí)根據(jù)實(shí)際情況會有所調(diào)整。
1、硬件測試概述
硬件測試目的、測試需求的來源；測試的基本原則；硬件測試種類、硬件測試流程技術(shù)；
2、硬件測試準(zhǔn)備技術(shù)
FMEA（故障模式影響分析）、測試計(jì)劃；硬件可測試性設(shè)計(jì)、內(nèi)涵；產(chǎn)品可測試性設(shè)計(jì)的必要性；PCB可測試性的條件、一般要求、策略、影響PCB測試策略的參數(shù)；在線測試對印制電路板設(shè)計(jì)的要求、板的尺寸和節(jié)點(diǎn)數(shù)；DFT規(guī)則的使用、遵守或理解；測試點(diǎn)的可訪問性、設(shè)置準(zhǔn)則、尺寸要求；測試焊盤的尺寸、定位孔要求、器件特殊引腳的處理；功能測試方面的可測性設(shè)計(jì)要求；PCB可測試性的關(guān)鍵技術(shù)及發(fā)展；Ad-hoc測試、掃描技術(shù)；內(nèi)建自測技術(shù)（BIST）、幾種可測試性技術(shù)比較、測試的安全措施；
3、PCA工藝測試技術(shù)
PCB測試、再流焊實(shí)時(shí)溫度曲線測試技術(shù)；PCB的測試方法；手工視覺、X-Ray測試；自動光學(xué)檢查(AOI)、飛針測試機(jī)、ICT測試機(jī)、電路板故障檢測儀；
4、PCA電氣測試技術(shù)
低頻電路測試技術(shù)、各種元器件特性曲線；測試高速電路測試技術(shù)、SI分析、信號完整性的仿真、示波器的使用、數(shù)字示波器探頭選用；傳輸線特性阻抗、集總式電路特性測試技術(shù)；信號質(zhì)量測試：信號質(zhì)量測試方法、硬件信號質(zhì)量測試案例；驅(qū)動器電源噪聲串?dāng)_導(dǎo)致數(shù)據(jù)線毛刺、過沖和毛刺使FLASH芯片工作異常、損壞率高；信號時(shí)序測試：信號時(shí)序測試條件、測試覆蓋范圍、測試參數(shù)、測試過程；時(shí)序測試案例；信號時(shí)序緊張，造成誤碼嚴(yán)重容差、容錯定量測試（操作容限測試）、附加噪聲、調(diào)節(jié)寬總線上的定時(shí)；通過同軸電纜延時(shí)調(diào)節(jié)時(shí)鐘、通過脈沖發(fā)生器調(diào)節(jié)時(shí)鐘；用于時(shí)鐘相位調(diào)節(jié)的簡單電路、用鎖相環(huán)調(diào)節(jié)時(shí)鐘；通過改變電壓調(diào)節(jié)時(shí)鐘；供電、溫度、數(shù)據(jù)吞吐量、硬件測試自動化技術(shù)；射頻電路測試技術(shù)；
5、硬件安全測試技術(shù)
防電擊、電氣間隙和爬電距離測試；介電強(qiáng)度、供電電源的斷開試驗(yàn)；產(chǎn)品防機(jī)械危險(xiǎn)檢驗(yàn)；產(chǎn)品耐機(jī)械沖擊、撞擊試驗(yàn)；設(shè)備溫度限制和防止火的蔓延、耐熱試驗(yàn)、元器件、開關(guān)電源安規(guī)測試；小功率電動機(jī)檢測、鋰離子電池安全性；
6. 環(huán)境適應(yīng)性測試技術(shù)
7、整機(jī)EMC測試技術(shù)
電磁兼容試驗(yàn)的原則；EMC測試設(shè)備；EMI試驗(yàn)技術(shù)；電源端傳導(dǎo)騷擾測量、負(fù)載端和控制端傳導(dǎo)騷擾電壓測試；電信端口騷擾的測量、斷續(xù)騷擾 click試驗(yàn)技術(shù)；騷擾功率測量、輻射騷擾測量技術(shù)、測試項(xiàng)目和設(shè)備工程案例；EMS試驗(yàn)技術(shù)、抗擾度測試的內(nèi)容；連續(xù)波傳導(dǎo)、輻射試驗(yàn)；傳導(dǎo)瞬時(shí)(叢訊)試驗(yàn)法；雷擊浪涌的抗擾度、電壓暫降和短時(shí)中斷、靜電放電抗騷擾試驗(yàn)；
8、硬件測試管理技術(shù)
產(chǎn)品測試組織：測試問題的解決、確認(rèn)、定位、反饋方式和流程、跟蹤和解決流程；測試效果評估：測試度量指標(biāo)、評審、經(jīng)驗(yàn)總結(jié)的形式、遺留問題處理、市場規(guī)模應(yīng)用跟蹤、產(chǎn)品故障率統(tǒng)計(jì)；測試文件管理：測試用例、報(bào)告、規(guī)范制定；需要哪些規(guī)范、規(guī)范的制定準(zhǔn)則；測試人員的等級認(rèn)證；
9、綜合案例
開關(guān)電源、DC-DC電源內(nèi)部、光模塊內(nèi)部、手機(jī)硬件測試；測試用例；計(jì)算機(jī)硬件測試、網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)硬件測試技術(shù)、狀態(tài)監(jiān)測；汽車電控系統(tǒng)自診斷；

授課教師
周老師：英國Wayne kerr電子儀器公司技術(shù)顧問、Emerson公司產(chǎn)品評審專家、美國Gerson Lehrman集團(tuán)專家、電子行業(yè)資深教授、大學(xué)博士；早年于西門子公司設(shè)計(jì)數(shù)控系統(tǒng)7年，后一直從事電子設(shè)備可靠性設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)、電子設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、熱設(shè)計(jì)、防腐蝕設(shè)計(jì)、防振設(shè)計(jì)、電子設(shè)備制造工藝設(shè)計(jì)、靜電防護(hù)體系建設(shè)、電子產(chǎn)品認(rèn)證等方面的研究，從業(yè)30余年經(jīng)驗(yàn)；出版專業(yè)著作8部，包括《電子設(shè)備結(jié)構(gòu)與工藝》、《電子設(shè)備防干擾原理與技術(shù)》、《現(xiàn)代傳感器技術(shù)》、《數(shù)控機(jī)床實(shí)用技術(shù)》、《現(xiàn)代電子設(shè)備設(shè)計(jì)制造手冊》、《電磁兼容基礎(chǔ)及工程應(yīng)用》、《家用電器實(shí)用技術(shù)》等，部分著作多次印刷發(fā)行；待出版的專業(yè)著作有《印制電路板設(shè)計(jì)制造技術(shù)》并應(yīng)一些單位的要求，編寫了企業(yè)內(nèi)部規(guī)范等等；多次去國外進(jìn)行產(chǎn)品設(shè)計(jì)評審并主持完成我國省部級科研課題多項(xiàng)，在中國工程院院刊等核心期刊發(fā)表學(xué)術(shù)論文40多篇，多篇被EI收錄。

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